Ключевые слова: PLD process, deposition setup, thin films, magnetic field dependence
Wang H., Wang H., Li Y., Zhao B., Zheng J., Xu J., Yan L., Chen S., Zhu X., Wang Q., Dai Y., Song S., Li L., He Q., Cheng J., Cui C., Ni Z., Feng Z.
Ключевые слова: MRI magnets, helium liquid, design, magnetic field distribution, design parameters, quench properties, cryogenic systems, test results, LTS, NbTi, quality control
Ключевые слова: jacket, mechanical properties, tensile tests, ITER, coils toroidal, heat treatment, stress effects, elastic behavior, fracture behavior, microstructure
Xin Y., Li Q., Liu L., Wei Z.Q., Zhang J.Y., Yang H., Gong W.Z., Hong H., Sun Y.W., Niu X.Y., Cui J.B., Wang L.Z., Wang H.Z., Zhu X.H.
Ключевые слова: power equipment, FCL inductive, core iron, core saturated, test results, fabrication, installation, impedance
Xin Y., Li Q., Liu L., Wei Z.Q., Gong W.Z., Tian B., Hong H., Sun Y.W., Cui J.B., Shu B., Wang L.Z., Gao Y.Q., Zhang L.F., Zhu X.H., Cao J.B.
Ключевые слова: FCL inductive, core saturated, core iron, dc performance, coils, design, fabrication, test results, coils pancake, defects, degradation studies, safety
Ключевые слова: HTS, YBCO, doping effect, thin films, TFA-MOD process, critical caracteristics, critical current density, fabrication, pinning, microstructure, Jc/B curves, pinning force
Wang L., Li Y., Zhang L., Bao Q., Chen S., Zhu X., Lei Y., Wang Q., Dai Y., Song S., Hu X., Ni Z., Feng Z.
Ключевые слова: MRI magnets, quench protection, heater, model small-scale, test results, LTS, NbTi
Moshchalkov V.V., Pace S., Zhu X., Grimaldi G., Leo A., Nigro A., Silhanek A.V., Gillijns W., Berdiyorov G.R., Milosevic M.V., Verellen N., Metlushko V., Ilic B.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, chemical solution deposition, nanoparticles, substrate LaAlO3, microstructure, critical caracteristics, Jc/B curves, fabrication
Ключевые слова: HTS, coated conductors, substrate Ni-W, buffer layers, chemical solution deposition
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, tapes, fabrication, phase formation, heat treatment
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag/Ni, PIT process, fabrication, microstructure, critical current density
Ключевые слова: coated conductors, buffer layers, chemical solution deposition, fabrication, substrate Ni, substrate single crystal, HTS, manganites
Ключевые слова: chemical solution deposition, buffer layers, substrate Ni-W, coated conductors, fabrication
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.